7月24日至25日，第六届中国测试学术会议在我校召开。会议由中国计算机学会容错计算专业委员会主办，我校承办。会议聚集了来自清华大学、国防科技大学、中国科学院计算所、中国电子技术标准化所、复旦大学、同济大学等20多家高校和科研院所的专家学者，以及来自华为技术有限公司、北京华大泰思特半导体检测技术有限公司、上海市软件评测中心有限公司的产业界同仁，旨在交流有关软/硬件测试理论、测试系统开发及应用、可信计算、信息安全、嵌入式系统的相关理论与应用成果，探讨本领域所面临的关键问题和解决途径。

我校党委书记李廉、电子科学与应用物理学院院长梁华国、计算机与信息学院院长刘晓平，中国计算机学会容错计算专业委员会主任/中科院计算所李晓维研究员出席大会开幕式并致辞。大会程序主席、我校计算机与信息学院院长助理王伟主持开幕式。

本次会议的学术活动丰富，邀请到沈绪榜院士、瑞典林雪平大学的彭泽波教授做大会邀请报告，并邀请到上海市软件评测中心董事长王蕾女士、中国电子技术标准化所的陈大为教授作大会特邀报告。大会安排了IC测试及应用、软件测试、容错理论与可靠性设计、可测试性设计、软件可靠性、网络安全与设计验证总共六个分组报告。

本届会议共收到论文121篇，由30余位程序委员进行严格的论文评审工作，保证了录用论文的质量和公平性。论文集最后实际收录的论文为106篇。并推荐了其中多篇优秀论文到《计算机研究与发展》、《电子学报》和《计算机辅助设计与图形学学报》期刊发表，这些论文代表了我国测试和容错计算领域的最新研究成果。